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Automated Image Mapping品牌
飛納產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無探測(cè)器:
*加速電壓:
*電子槍:
*電子光學(xué)放大:
*光學(xué)放大:
*分辨率:
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全新界面,一鍵掃描更便捷
掃描“形狀”自定義
大樣品全景觀測(cè)
高清圖像無錯(cuò)位
飛納電鏡全景拼圖【新品】操作界面
當(dāng)掃描電鏡觀察的樣品尺寸較大,超出電鏡*小視野范圍時(shí),將無法看到樣品的全貌,對(duì)于一些需要獲取樣品全貌的應(yīng)用領(lǐng)域 則顯得很不友好。飛納電鏡基于高精度馬達(dá),高亮度晶體燈絲,以及強(qiáng)大的圖像數(shù)據(jù)處理能力,推出了全景拼圖軟件,該軟件 可對(duì)光學(xué)視野內(nèi)的所有樣品進(jìn)行自定義“形狀”的全景掃描,獲取樣品全貌圖像,擺脫樣品尺寸的束縛。
該軟件操作簡(jiǎn)單,一鍵即可成像,適用于需要獲取樣品全貌的應(yīng)用場(chǎng)景,推薦在以下領(lǐng)域使用:
? 裂紋擴(kuò)展分析
? 金屬斷口分析
? PCB 失效分析
? 生物樣品觀察
? 大尺寸樣品成像等
飛納電鏡全景拼圖主要優(yōu)點(diǎn):
? 操作軟件嵌入電鏡系統(tǒng),快速切換
? 全新 UI 設(shè)計(jì),界面簡(jiǎn)潔,操作高效
? 掃描區(qū)域可自定義畫取,只掃描有價(jià)值區(qū)域
? 單圖視野范圍連續(xù)調(diào)節(jié)
? 高精度馬達(dá),樣品移動(dòng)更精確
? 大面積、快速掃描
? 圖像自動(dòng)縫合,消除圖像位錯(cuò)
? 自動(dòng)對(duì)焦,適用于大景深樣品
規(guī)格參數(shù):
圖像模式
? 背散射電子圖像
? 二次電子圖像
對(duì)焦模式
自動(dòng)對(duì)焦
主要參數(shù)
? 圖片數(shù)量
? 像素尺寸
? 放大倍數(shù)
? 掃描時(shí)間
掃描方式
完整樣品區(qū)域都可掃描
** 100mm x 100mm
全新界面,一鍵掃描更便捷
掃描“形狀”自定義
大樣品全景觀測(cè)
高清圖像無錯(cuò)位
今年 11 月 2 日起,每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn),包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得,不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車,因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代,生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此,潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),而控制
2020-12-21
2020-12-21
「特點(diǎn)速覽」穩(wěn)定可靠: 80年頂尖技術(shù)傳承。獨(dú)家采用 CeB6 晶體燈絲: 3000 h 超長(zhǎng)使用壽命,平均 5 年換燈絲。面向工業(yè) 4.0 的自動(dòng)化與 AI 智能掃描電鏡:開放編程接口,打造定制化的
9月1日上午,以“掃描電子顯微鏡的新技術(shù)與新應(yīng)用”為主題的學(xué)術(shù)講座在揚(yáng)州大學(xué)揚(yáng)州碳中和技術(shù)創(chuàng)新研究中心401報(bào)告廳隆重舉行。本次講座旨在深入探討掃描電子顯微鏡領(lǐng)域的前沿進(jìn)展與應(yīng)用創(chuàng)新,促進(jìn)學(xué)術(shù)交流與技
固態(tài)電池(SSB)因其更高的能量密度、更長(zhǎng)的使用壽命以及增強(qiáng)的安全性,已嶄露頭角,有望成為鋰離子電池的繼任者。盡管 SSB 具有這些潛力,但它們并非沒有挑戰(zhàn)。一個(gè)主要問題是電池陰極內(nèi)部的顆粒接觸失效。
生物樣品最佳觀察時(shí)間往往稍縱即逝,而傳統(tǒng)透射電鏡(TEM)的漫長(zhǎng)檔期讓關(guān)鍵研究被迫等待,亞納米級(jí)分辨率雖強(qiáng),卻難解燃眉之急。Pharos STEM 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射生物電鏡——把實(shí)驗(yàn)室級(jí)分辨率,裝
摘要:隨著汽車工業(yè)對(duì)質(zhì)量與可靠性的要求日益提升,汽車清潔度檢測(cè)已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運(yùn)行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿足對(duì)微小顆粒的識(shí)別需求,因此,先進(jìn)的掃描電鏡(SEM)技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)
掃描電鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測(cè)工具,憑借其納米級(jí)分辨率和強(qiáng)大的表征能力,已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工