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飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術(shù),將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合,讓工作流程更加流暢,簡化了許多材料(包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等)的分析流程:通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實(shí)時疊加,在成像同時提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。
實(shí)時分析獲取更深層的信息 所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復(fù)雜的,對于產(chǎn)品故障分析和污染物識別等應(yīng)用,研發(fā) 需要不斷改進(jìn)質(zhì)量控制(QC)和故障分析(FA)流程,以更好地解決出現(xiàn)的問題。 ChemiSEM 技術(shù)的實(shí)時分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了獨(dú)特的優(yōu)勢。它的 EDS 集成在儀器中,并在電鏡工作時始終在后臺收集成分?jǐn)?shù)據(jù),逐步建立樣品更全面和詳 細(xì)的信息,幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問題。實(shí)時定量面掃:不再有
實(shí)時定量面掃:不再有分析干擾 傳統(tǒng)的元素分析中,復(fù)雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時得到精確的結(jié)果。例 如,一個峰的信號有時會被識別為兩個元素,產(chǎn)生錯誤,干擾樣品QC 問題的判斷。 憑借創(chuàng)新的算法和智能光譜擬合,ChemiSEM 技術(shù)可以幫助您的實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的 元素識別和量化—— 即使在處理多個重疊元素時也是如此。
ChemiSEM 定量面掃:ChemiSEM 技術(shù)自動處理原始信號,生成定量面掃結(jié)果。數(shù)據(jù)被很好地解析,能夠有效避免和 峰和重疊峰的影響。并且使用算法同時處理 BSE(背散射電子)和 EDS 信號,從而可以實(shí)時顯示樣品的形態(tài)和 元素定量結(jié)果。
無偏差相分析 傳統(tǒng)的相分析高度依賴于對樣品的假設(shè),當(dāng)存在譜峰重疊或強(qiáng)度不足而遺漏了元素時, 這可能會是一個問題。 有了 ChemiPhase(ChemiSEM 技術(shù)中的一項新功能)后,可以避免這種情況。復(fù)雜樣 品的分析能夠做到完全無偏差,可以基于數(shù)據(jù)單元中所有光譜結(jié)果,系統(tǒng)地識別每個獨(dú) 立的相。隨后,數(shù)據(jù)分析可以在沒有任何元素預(yù)定義的情況下自動運(yùn)行,無需豐富經(jīng)驗(yàn) 即可定位次要/微量元素,明確識別主要和次要成分,完成更深入、更全面的分析。
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使用 ChemiPhase 對地質(zhì)切片的分析,每個相的能譜成分被自動提取和計算,可以將不同礦物相有效區(qū)分。
自動樣品漂移校正 成分分析過程中,準(zhǔn)確和有效的定量結(jié)果需要一個正確且穩(wěn)定的樣品位置信息。 通常在圖像漂移的情況下,研究人員需要多次重新獲取分析數(shù)據(jù),或者等待樣品停止漂 移后再獲取數(shù)據(jù),這兩種方式都會降低測試效率。 通過不斷監(jiān)控樣品位置,ChemiSEM 軟件提供自動樣品漂移校正,使高倍率操作和較長 時間的能譜采集成為可能。幫助大家節(jié)省寶貴的時間和精力,專注于更重要的事情:盡 快獲取**質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
暫無數(shù)據(jù)!
今年 11 月 2 日起,每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn),包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得,不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車,因此帶動了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時代,生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此,潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),而控制
2020-12-21
2020-12-21
產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務(wù)
易用性
性價比
「特點(diǎn)速覽」穩(wěn)定可靠: 80年頂尖技術(shù)傳承。獨(dú)家采用 CeB6 晶體燈絲: 3000 h 超長使用壽命,平均 5 年換燈絲。面向工業(yè) 4.0 的自動化與 AI 智能掃描電鏡:開放編程接口,打造定制化的
9月1日上午,以“掃描電子顯微鏡的新技術(shù)與新應(yīng)用”為主題的學(xué)術(shù)講座在揚(yáng)州大學(xué)揚(yáng)州碳中和技術(shù)創(chuàng)新研究中心401報告廳隆重舉行。本次講座旨在深入探討掃描電子顯微鏡領(lǐng)域的前沿進(jìn)展與應(yīng)用創(chuàng)新,促進(jìn)學(xué)術(shù)交流與技
固態(tài)電池(SSB)因其更高的能量密度、更長的使用壽命以及增強(qiáng)的安全性,已嶄露頭角,有望成為鋰離子電池的繼任者。盡管 SSB 具有這些潛力,但它們并非沒有挑戰(zhàn)。一個主要問題是電池陰極內(nèi)部的顆粒接觸失效。
生物樣品最佳觀察時間往往稍縱即逝,而傳統(tǒng)透射電鏡(TEM)的漫長檔期讓關(guān)鍵研究被迫等待,亞納米級分辨率雖強(qiáng),卻難解燃眉之急。Pharos STEM 臺式場發(fā)射生物電鏡——把實(shí)驗(yàn)室級分辨率,裝
摘要:隨著汽車工業(yè)對質(zhì)量與可靠性的要求日益提升,汽車清潔度檢測已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運(yùn)行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿足對微小顆粒的識別需求,因此,先進(jìn)的掃描電鏡(SEM)技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)
掃描電鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測工具,憑借其納米級分辨率和強(qiáng)大的表征能力,已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工