參考價(jià)格
面議型號
LiteScope品牌
飛納產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無分散方式：
-測量時間：
-測量范圍：
21 mm x 11 mm x 8 mm誤差率：
-分辨率：
0.2 nm x 0.2 nm x 0.04 nm重現(xiàn)性：
-儀器原理：
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AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）
產(chǎn)品簡介
革命性的原子力顯微鏡（AFM），可實(shí)現(xiàn)與掃描電子顯微鏡（SEM）的無縫集成，為原位關(guān)聯(lián)顯微鏡開辟新可能。
憑借優(yōu)化設(shè)計(jì)，LiteScope AFM 兼容賽默飛世爾、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM 系統(tǒng)及其配件，其他品牌電鏡亦可定制適配。
測量模式：
• 機(jī)械性能：AFM，能量耗散，相位成像
• 電性能：C-AFM、KPFM、EFM、STM
• 磁性能：MFM
• 電機(jī)械性：PFM
• 光譜學(xué)：F-z
曲線，I-V 曲線
• 相關(guān)性分析：CPEM
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）
實(shí)用特點(diǎn)
原位樣品表征
在 SEM 內(nèi)部的原位條件下確保樣品分析同時、同地、同條件下進(jìn)行，并且在飛納電鏡內(nèi)部也能實(shí)現(xiàn)原子級分辨率
精確定位感興趣區(qū)域
SEM 與 AFM 原位聯(lián)用，保證了同一時間、同一地點(diǎn)和相同條件下的分析 使用 SEM 畫面，實(shí)時觀測探針與樣品的相對位置，為探針提供導(dǎo)航，精準(zhǔn)定位
實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的樣品分析需求
提供電氣、磁學(xué)、光譜等多種測量模式，且能同一位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能。同時獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù)，并將其無縫關(guān)聯(lián)
應(yīng)用案例
鋼和合金的復(fù)合分析
利用原子力顯微鏡對雙相鋼進(jìn)行復(fù)合分析，揭示了表面形貌（AFM）、鐵 氧體晶粒的磁疇結(jié)構(gòu)（MFM）、晶粒相比（SEM）和表面電位雜質(zhì)開爾文 探針力顯微分析法。 • 相關(guān)多模態(tài)分析揭示了復(fù)雜的性質(zhì) • 掃描電鏡精確定位 ROI，AFM 綜合分析
電池的原位表征
固態(tài)電池（SSB）比鋰離子電池顯示出更高的能量密度、更長的壽命和更 好的安全性。由鋰鎳錳鈷氧化物（NMC）顆粒組成的正極膠帶在手套箱中 經(jīng)過 200 個周期后被打開，原位切割并使用 AFM-in-SEM 測量。
樣品提供： Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)
• 在 CAM 橫截面處對局部電導(dǎo)率（C-AFM）進(jìn)行表征
• 無需空氣暴露即可原位制備敏感 CAM
納米線的先進(jìn)表征
懸掛蜘蛛絲納米線因其獨(dú)特的機(jī)械性能而被研究，通過超精確定位AFM 尖端在懸掛的納米線上。力-距離光譜學(xué)使得確定納米線的彈性和塑性 變形成為可能。
樣品提供： Linnea Gustafsson, KTH (SWE)。
• SEM： 精確定位 AFM 尖端和納米線變形的實(shí)時觀察
• 分析屬性如楊氏模量和抗拉強(qiáng)度
選配件
納米壓痕模塊
納米壓痕模塊能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時進(jìn) 行微機(jī)械實(shí)驗(yàn)，并利用 LiteScope 以亞納米級分辨率對壓痕樣品進(jìn)行 分析
NenoCase 與數(shù)碼相機(jī)
在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨(dú)立 AFM 使用，通過數(shù)碼 相機(jī)精確導(dǎo)航探針。
樣品旋轉(zhuǎn)模塊
適用于 FIB 后進(jìn)行 AFM 分析。此外還允許同時安裝多個樣品實(shí)現(xiàn)在不 打開 SEM 腔室的情況下即可對多個樣品進(jìn)行測試。
暫無數(shù)據(jù)！
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車，因此帶動了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
「特點(diǎn)速覽」穩(wěn)定可靠: 80年頂尖技術(shù)傳承。獨(dú)家采用 CeB6 晶體燈絲: 3000 h 超長使用壽命，平均 5 年換燈絲。面向工業(yè) 4.0 的自動化與 AI 智能掃描電鏡：開放編程接口，打造定制化的
9月1日上午，以“掃描電子顯微鏡的新技術(shù)與新應(yīng)用”為主題的學(xué)術(shù)講座在揚(yáng)州大學(xué)揚(yáng)州碳中和技術(shù)創(chuàng)新研究中心401報(bào)告廳隆重舉行。本次講座旨在深入探討掃描電子顯微鏡領(lǐng)域的前沿進(jìn)展與應(yīng)用創(chuàng)新，促進(jìn)學(xué)術(shù)交流與技
固態(tài)電池（SSB）因其更高的能量密度、更長的使用壽命以及增強(qiáng)的安全性，已嶄露頭角，有望成為鋰離子電池的繼任者。盡管 SSB 具有這些潛力，但它們并非沒有挑戰(zhàn)。一個主要問題是電池陰極內(nèi)部的顆粒接觸失效。
生物樣品最佳觀察時間往往稍縱即逝，而傳統(tǒng)透射電鏡（TEM）的漫長檔期讓關(guān)鍵研究被迫等待，亞納米級分辨率雖強(qiáng)，卻難解燃眉之急。Pharos STEM 臺式場發(fā)射生物電鏡——把實(shí)驗(yàn)室級分辨率，裝
摘要：隨著汽車工業(yè)對質(zhì)量與可靠性的要求日益提升，汽車清潔度檢測已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運(yùn)行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿足對微小顆粒的識別需求，因此，先進(jìn)的掃描電鏡（SEM）技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)
掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測工具，憑借其納米級分辨率和強(qiáng)大的表征能力，已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工
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