參考價(jià)格
面議型號(hào)
S-Sorb X700品牌
國(guó)儀精測(cè)產(chǎn)地
中國(guó)樣本
暫無(wú)白金會(huì)員
|第17年
|生產(chǎn)商
工商已核實(shí)
誤差率:
/分辨率:
/重現(xiàn)性:
/儀器原理:
靜態(tài)容量法分散方式:
/測(cè)量時(shí)間:
/測(cè)量范圍:
吸附溫度:室溫~100℃;控溫精度:0.1℃ 蒸汽源溫度:室溫~105℃;控溫精度:0.1℃看了國(guó)儀蒸汽吸附儀的用戶(hù)又看了
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1、 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
蒸汽吸附儀S-Sorb X700系列,純“蒸”吸附,冷凝無(wú)蹤,核心系統(tǒng)器件125℃下恒溫,耐壓耐腐蝕型蒸汽發(fā)生器,系統(tǒng)漏氣率低至1x10-11Pa.m3/s
全等溫線(xiàn)測(cè)定+全油浴恒溫+耐腐蝕管路系統(tǒng),三大特點(diǎn)滿(mǎn)足多種需求。
三大參量重新定義水蒸汽吸附儀:
高溫恒溫系統(tǒng):125℃,耐溫型壓力傳感器+高溫型氣動(dòng)膜片閥高溫恒溫系統(tǒng)更高水蒸汽吸附壓強(qiáng):0.2MPa,高溫恒溫系統(tǒng)+高壓型蒸汽發(fā)生器
導(dǎo)熱更佳的油浴恒溫:0.05℃,高導(dǎo)熱率導(dǎo)熱油+油微循環(huán)系統(tǒng)
三大技術(shù)創(chuàng)新,助力穩(wěn)定運(yùn)行:
耐壓耐腐蝕樣品管系統(tǒng),微循環(huán)油浴恒溫系統(tǒng),耐腐蝕的微焊管路系統(tǒng)
2、 產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)試通量:3站測(cè)試
測(cè)試功能:0.35nm-500nm 可測(cè)試BET表面積、t-Plot、BJH、HK、SF
測(cè)試氣體:水蒸氣、一氧化碳、氨氣等其他以及常溫下為液體的物質(zhì)(有強(qiáng)烈腐蝕、劇毒、危險(xiǎn)氣體除外)
真空泵:二級(jí)旋片機(jī)械泵,極限真空度1.5*10-3Torr可選配分子泵
壓力傳感器:量程:3Bar分辨率:0.002%FS;準(zhǔn)確度:0.02%FS;可選配10Torr、0.1Torr量程壓力傳感器
吸附溫度:室溫~100℃;控溫精度:0.1℃
蒸汽源溫度:室溫~105℃;控溫精度:0.1℃
油浴控溫:油浴控溫系統(tǒng),控溫精度:0.05℃
暫無(wú)數(shù)據(jù)!
摘要:硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料,因?yàn)榫哂辛己玫目拐承浴⒃隽餍院蜐?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用,作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑,比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響,硬脂酸鎂的比表面積越大,其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn)、高硬度、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車(chē)工業(yè)、紡織、化工、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu),是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
在量子科技浪潮席卷全球的今天,金剛石NV色心(氮-空位色心)以其獨(dú)特的性質(zhì),成為量子計(jì)算、量子通信和量子傳感領(lǐng)域的關(guān)鍵材料。然而,長(zhǎng)期以來(lái),國(guó)內(nèi)高品級(jí)量子鉆石依賴(lài)進(jìn)口,面臨國(guó)外技術(shù)封鎖的“卡脖子”難題
近日,國(guó)儀量子2025年中工作會(huì)議成功舉行。這場(chǎng)兼具實(shí)用價(jià)值與戰(zhàn)略高度的盛會(huì),不僅復(fù)盤(pán)了上半年的奮斗歷程,沉淀寶貴經(jīng)驗(yàn),更以清晰的戰(zhàn)略規(guī)劃凝聚了團(tuán)隊(duì)共識(shí),為下半年發(fā)展注入強(qiáng)勁動(dòng)力,成為推動(dòng)公司全年目標(biāo)
近日,南京理工大學(xué)闞二軍教授、萬(wàn)逸副教授與中科院半導(dǎo)體所王開(kāi)友教授課題組在二維鐵磁半導(dǎo)體研究領(lǐng)域取得重要突破。研究團(tuán)隊(duì)利用國(guó)儀量子掃描NV探針顯微鏡(SNVM)成功揭示了半導(dǎo)體MnS2的室溫鐵磁性,相
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 在芯片制造工藝中,金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性,對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升,芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時(shí),Al 互連導(dǎo)線(xiàn)
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開(kāi)裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域,芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”,覆蓋在芯片表面,隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利